薄片制备用于矿产和石油勘探
勘探的作用是提供所需的信息,以便在区域选择中找到最佳的机会。取芯是获取高质量样品以直接测量岩石和储层属性的最佳方法。大多数岩芯样品是通过使用特殊取芯钻头在感兴趣的区域(如沉积物或岩石)中钻取获得的。然后对岩芯样品进行岩芯分析,以获取详细的岩石物理数据。
岩芯样品还可以制备成薄片,以便检查从钻探中获得的岩石样品,并研究岩石的性质及其与油气储层的关系。薄片使地质学家能够研究岩石的孔隙结构、粒度和方向,这些信息可以揭示储层岩石的渗透性和孔隙度,以及油气聚集的潜力。
岩石样品被用金刚石锯切割成薄片,并研磨至光学平坦。随后将其安装在玻璃载片上,并使用逐步更细的磨料磨光,直到样品只有30微米厚。然后,薄片可以放置在相互垂直的两个偏光滤光片之间,薄片中矿物的光学特性会改变观察到的光的颜色和强度。
根据Michel-Lévy干涉颜色图上薄片产生的干涉图案,可以将其分配特定颜色,这取决于被放大或消减的光波长。例如,高折射率的矿物会产生明亮、多彩的图案,而低折射率的矿物则会产生较暗的图案。
通过比较这些干涉图案,矿物学家可以识别矿物并确定其光学特性。这些信息对于理解岩石和矿物的成分、纹理和形成过程至关重要,可用于对矿产勘探和开采做出明智的决策。
薄片制备推荐设备
“KemTech Geo”是一种精密薄片切割和研磨机,用于快速且精确的材料移除。“KemTech Geo”能够在一台机器上完成切割和研磨阶段。在切割模块中,滑动安装的样品通过真空固定在夹具上,并切割至0.5毫米的厚度。切割过程中使用水冷却,以避免样品变形和热降解。在研磨模块中,研磨位置可以微米级调节,编码器在HMI上以0.001毫米分辨率显示研磨位置,确保最高精度。
“KemTech III薄片研磨机”能够精确研磨和抛光薄片,薄片安装在玻璃载片上,可达到30微米的厚度。通过集成的蠕动分配器向研磨板定量供给金刚石和/或传统磨料。“Lift Off Disc”系统允许在研磨和抛光阶段之间快速转换。
Kemet系列地质样品制备设备可满足高产量或低产量生产的需求。制备好用于分析的薄片需要高度专业化的设备和技能,以将样品制作成非常薄的厚度,通常为30微米,用于偏光显微镜观察。
总之,薄片是矿产和石油勘探中的重要工具,因为它们提供了有关岩石和矿物属性的重要信息,这些信息可以帮助地质学家对矿产和石油勘探做出明智的决策。